三维X射线扫描 CT扫描）︱缺陷分析︱尺寸测量︱逆向工程︱CAD数模对比

缺陷分析 尺寸测量 逆向工程 CAD数模对比 

 简介：

三维X射线扫描（CT）采用机算计断层扫描技术，在对被*物体无损伤的条件下，以二维断层图像或三维立体图像的形式，清晰、准确、直观地展示被*物体的内部结构、组成、材质及缺损状况。

 目的：

缺陷分析：确定产品内部可能存在的缺陷的类型、位置以及尺寸。

尺寸测量：**准确地再现目标物体三维立体结构，可视化测定其结构尺寸

逆向工程：采集待测物体点云数据并以STL文件格式**输出其CAD数据。

CAD数模对比：以直观的色彩偏差**形象地显示目标结构与其CAD数据的偏差

应用范围：

塑料、陶瓷等复合材料，以及镁、铝和钢原料制成的零件、粘结剂等。

测试步骤：

确认样品类型/材料→放置测量装置中→**扫描→图像整体透视、任意面剖视→缺陷分析。